1. Digital circuit testing and testability
پدیدآورنده : Lala, Parag K.
کتابخانه: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع : Testing ، Integrated circuits - Very large scale integration,Testing ، Digital integrated circuits,، Integrated circuits - Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
2. Digital circuit testing and testability
پدیدآورنده : Lala, Parag K.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing,، Digital integrated circuits-- Testing,، Integrated circuits-- Fault tolerance
رده :
TK
7874
.
75
.
L35
1997
3. VLSI:
پدیدآورنده : edited by Ricardo Reis, Luc Claesen.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Computer science.,Information storage and retrieval systems.
رده :
TK7874
.
75
E358
1997
